ஸ்கேனிங் எலக்ட்ரான் நுண்ணோக்கி (SEM) மற்றும் EDS
பொருள் மேற்பரப்புகளின் உயர் பிரிதிறன் படமெடுப்பு மற்றும் தனிமப் பகுப்பாய்வு.
கண்ணோட்டம்
Zeiss Sigma என்பது ஆற்றல் பரவல் X-கதிர் நிறமாலை (EDS) வசதியுடன் கூடிய ஃபீல்டு எமிஷன் ஸ்கேனிங் எலக்ட்ரான் நுண்ணோக்கி. உயர் உருப்பெருக்கத்தில் மேற்பரப்பு விவரங்களைப் படமெடுத்து, தேர்ந்தெடுத்த பகுதியில் உள்ள தனிமங்களை அடையாளம் காண்கிறது.
பயன்பாடுகள்
- பொருள் மேற்பரப்புப் பகுப்பாய்வு
- தனிம உள்ளடக்கம் மற்றும் தனிமப் பரவல் வரைபடம் (EDS)
- முறிவு ஆய்வு (Fractography)
- நுண்கட்டமைப்பு ஆய்வு
தொழில்நுட்ப விவரக்குறிப்புகள்
- தயாரிப்பு நிறுவனம்
- Zeiss
- மாடல்
- Sigma
- எலக்ட்ரான் மூலம்
- Schottky thermal field emitter
- முடுக்க மின்னழுத்த வரம்பு
- 0.2 to 30 kV
- மின்னோட்ட வரம்பு
- 4 pA to 20 nA
- மாறு அழுத்த வரம்பு
- 2 – 133 Pa
- உணரிகள் (Detectors)
- In-lens secondary electron, Everhart-Thornley secondary electron, variable pressure secondary electron, backscattered electron
- 1 kV / 15 kV-இல் பிரிதிறன்
- 2.8 nm / 1.5 nm
- அதிகபட்சப் பட அளவு
- 3072 × 2304 pixels
- மாதிரி அறை
- Specimens up to 250 mm diameter and 45 mm tall
- EDS உணரி
- 80 mm² silicon-drift detector
விவரக்குறிப்புகள் கருவியின் ஆவணங்களில் குறிப்பிடப்பட்டுள்ளபடி தரப்பட்டுள்ளன.
பிரிவு
நுண்ணோக்கி
தொடர்புடைய சோதனைச் சேவைகள்
பொருள் சோதனைத் தேவை உள்ளதா?
உங்கள் மாதிரி மற்றும் சோதனையின் நோக்கத்தை எங்களிடம் தெரிவியுங்கள். அடுத்து என்ன செய்யலாம் என்பதை எங்கள் குழு உங்களுடன் கலந்துரையாடும்.